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- “新型功能材料關(guān)鍵特性參數(shù)計量標準研究”論證會在京召開
- 發(fā)布者： 瀏覽（19143） 發(fā)布時間：2017-11-03 15:50:08
“新型功能材料關(guān)鍵特性參數(shù)計量標準研究”論證會在京召開
10月27日，由中國計量科學研究院(簡稱中國計量院)牽頭的國家重點研發(fā)計劃專項“新型功能材料關(guān)鍵特性參數(shù)計量標準研究”項目實施方案論證會在北京召開。來自鋼鐵研究總院、中科院理化技術(shù)研究所、北京大學、北京市計量院等單位的7位咨詢專家，項目及各課題負責人、參加單位技術(shù)骨干等近40人參會。中國計量院副院長宋淑英出席會議并致辭。
項目論證會出席人員合影
項目負責人、中國計量院納米所所長宋小平副研究員匯報了項目的總體情況和實施方案，對項目目標、研究內(nèi)容、技術(shù)路線、考核指標、任務(wù)分解和進度安排、預(yù)期成果和財務(wù)預(yù)算等內(nèi)容進行了介紹。項目主要圍繞三類新型功能材料，即磁性材料、高分子材料和微納薄膜材料關(guān)鍵特性的溯源性開展研究，擬建立一批高水平的專用計量標準裝置和標準物質(zhì)，形成相關(guān)材料關(guān)鍵參數(shù)準確定值和可靠傳遞能力，為保障科研生產(chǎn)中相關(guān)材料特性測量和檢測數(shù)據(jù)的準確一致提供支撐。
項目分高性能電工鋼材料動態(tài)磁性計量技術(shù)研究、新型磁性材料現(xiàn)場計量技術(shù)研究、高分子材料理化性質(zhì)計量技術(shù)研究、高分子材料介電常數(shù)計量技術(shù)及標準裝置研究、微納薄膜材料結(jié)構(gòu)的光散射計量標準技術(shù)研究、微納米尺度薄膜材料結(jié)構(gòu)和熱電參數(shù)計量技術(shù)研究6個子課題執(zhí)行。6位課題負責人分別匯報了詳細的研究內(nèi)容、關(guān)鍵難點和技術(shù)方案。
咨詢專家認真聽取匯報，重點針對項目實施可行性、項目協(xié)調(diào)管理、材料計量中計量標準裝置及標準物質(zhì)溯源性等關(guān)鍵問題等提出了質(zhì)詢和建議。經(jīng)討論，與會專家一致認為項目研究目標、考核指標明確，研究內(nèi)容和課題設(shè)置合理，技術(shù)路線可行，建議盡快組織實施。中國計量院將牽頭9家合作單位開展聯(lián)合研究。項目研究成果有望提升我國相關(guān)材料關(guān)鍵特性參數(shù)的測量、檢測能力，為我國相關(guān)產(chǎn)業(yè)質(zhì)量提升貢獻力量。
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